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ATD-312型 EVA體積表面電阻率測試儀所有測試電壓（100/250/500/1000V） 測試時電阻結果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便 EVA TPU薄膜體積表面電阻率測定儀

ATI212電阻率檢測儀既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了大規模集成電路以及的技 術，使儀器體積小、重量輕、準確度高。以數字液晶顯示電阻并同時直接顯示流過被測電阻的電流。電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω， 電流測量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。

體積電阻率測試儀廠家 材料高阻測試測量如防靜電產品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等）電阻值的檢測； 材料體電阻（率）和表面電阻（率）測量；

絕緣漆體積表面電阻率測試儀電流測量范圍： 2 ×10-4A ～1 ×10-16 A； ? 直接顯示電阻率； ? 體積小、重量輕、準確度高； ? 獨的被測電阻、流過電阻和電阻率顯示，使操作測量更加方便

電線電纜導體半導體材料電阻率測試儀本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導率，*符合國家標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法　等標準要求。

LST-121體積表面電阻率測試儀范圍使用環境: 溫度 -10℃～50℃ 相對濕度90%。ATI-212電阻率檢測儀 6. 測試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%

BD-86A型半導體電阻率測試儀是根據四探針測試原理研制成功的新型半導體電阻率測試器，適合半導體器件廠、材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率、方塊電阻（薄層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻、導電薄層電阻，具有測量精度高、范圍廣、穩定性好、結構緊湊、使用方便、價格低等特點。

四探針方阻電阻率測試儀硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.